静电放电产生原因和对集成电路等电子产品破坏方式的不同，国内外已形成一套静电放电测试标准，其目的是建立可重复的测试方法来提供可靠且准确的结果，判别芯片对静电放电的敏感等级，并可用来重现静电放电造成的故障。

1 设备名称

LED静电放电试验仪。

2 测试说明

本仪器具有 HBM (人体模式)和 MM（机器模式） 测试模式，操作模式分自动智能和手动，并且分正反向均放电、单独正向放电、单独反向放电；LED期间的正反向ESD指标差异性较明显，建议对 LED 进行正反向双向都做 ESD 评估；

3 测试方法

 测试通常有两种方法：

3.1.制定一检验标准值（如 HBM2000V），然后手动直接打该电压值的 ESD；

3.2.由低往高逐步打，直至将被测 LED 打坏；适合做物料选型、工程试验；

4 相关标准

MIL-STD-883G ELECTROSTATIC DISCHARGE SENSITIVITY CLASSIFICATION

GJB 1649-93电子产品防静电放电控制大纲

SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

SJ/T 11624-2016 发光二极管（LED）显示屏用发光二极管规范