光色电性能测试

热性能测试

AECQ-100​​​

近场光学分布量测

结温、热阻量测​

1、可无损检测芯片结温，以评估器件寿命的影响；

2、可无损检测器件的热阻结构函数曲线，以分析器件不同结构

      层间热阻特性，发现其散热瓶颈及不同材料界面是否存在异

      常，为客户解决散热设计问题。

3、适用器件范围：二极管、三极管、LED、IGBT、MOS管等

      半导体器件。

4、测试符合JESD51系列标准，该设备采用的电压法是测量结

      温目前公认最精准的测量方法。

5、本单位测试优势：

     （1）具备TeraLED，可测量LED在不同温度下的光电特 

      性，如辐射功率、光通量、光电转换效率、色温等。亦可测

      量半导体器件规格书需体现的降额曲线，指导用户如何优化

      使用器件。

     （2）测试系统拓展，能满足闪光灯/VCSEL器件在脉冲驱动

      条件下的结温测试，相关论文已分别公开发表于第十九届及

      第二十届ICEPT国际会议上，均已被IEEE收录。

     （3）测试系统拓展，能满足多芯片半导体器件（热耦合效

      应下）的结温测试，相关论文已分别公开发表于第18届

      ICEPT国际会议及2019年CHINA SSL国际会议论坛，均已

      被IEEE收录。​

热瞬态测试仪（T3Ster）