X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（B.E）。

品牌型号: X-射线光电子能谱仪

大面积的探测晶体，最大有效面积达16mm²

1. 独一无二的大面积SDD探头

2. 高达16mm2的有效活区（20mm2晶体尺寸）

3. 输入计数率>500,000cps

4. 采集计数率>200,000cps

5. Mn Ka 典型分辨率<125eV，C Ka<48eV

6. 独特的电子陷阱设计使采集角更大

7. 高真空封装，极大地降低低能X射线的损失

8. 专用的SDD脉冲处理器

9. 探头外观尺寸与10mm2探头相同

10. 探头自动伸缩控制

11. 高计数下的谱峰校正